办理一份检测报告需要通过寄样至实验室或安排检测人员到现场按照相关标准执行后得到结果数据，报告真实有效。《GB/T 39343-2020 宇航用处理器器件单粒子试验设计与程序》中规定了相关产品的检测项目、方法及相关数值标准，如果您有产品需要依据《GB/T 39343-2020 宇航用处理器器件单粒子试验设计与程序》标准进行检测，百检网可以为您安排工程师对接一对一进行沟通确认具体检测方案。
GB/T 39343-2020.Processor device single event effects experiment design and procedure for aerospace.
1范围
GB/T 39343规定了宇航用处理器器件的单粒子试验设计与程序。
GB/T 39343适用于宇航用处理器器件的单粒子试验设计和过程控制,其他领域应用可参照执行。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB 18871-2002电离辐射防护与辐射源安全基本标准
3术语和定义、缩略语.
3.1 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1.1
处理器器件 processor device
内部含有处理器的器件,在正常的使用中可取指并执行指令的器件。
3.1.2
单粒子效应 single event effects; SEE
描述单粒子事件中的许多效应的术语。
3.1.3
单粒子事件 single event phenomena ;SEP
由单个高能粒子撞击引发的半导体器件一系列响应的统称,包括中子、质子引起的效应。
3.1.4
单粒子翻转 single event upset;SEU
单个高能粒子作用于器件,引发器件的逻辑状态改变的一种辐射效应。
3.1.5
单粒子锁定 single event latch up;SEL
单个高能粒子将器件内的可控硅触发开启,形成低电阻、大电流状态。
3.1.6
单粒子功能中断 single event functional interrupt;SEFI
单个高能粒子作用于器件,使被试器件功能丧失或紊乱，只有通过复位和重新配置才能恢复器件功能。
3.1.7
线性能量传输 linear energy transfer;LET
粒子沿人射方向在材料中单位长度沉积的能量。
《GB/T 39343-2020 宇航用处理器器件单粒子试验设计与程序》标准内容仅部分展示，如果您有相关需求请致电百检网咨询。
